Samo korisnici prijavljeni u sistem mogu da vide ovaj dokument. Korisnici koji imaju kredencijale mogu da se prijave.
Prijava
Ako nemate pristup sistemu, popunite formular i zatražite kopiju dokumenta od osobe koja je za to odgovorna. Unesite sledeće informacije:
Static characteristics of the metal-insulator-semiconductor- insulator-metal (MISIM) structure—II. Low frequency capacitance
