Приказ основних података о документу

Influence of the structure of multilayer thin Ni/Cu films on their mechanical properties and MEMS devices fabrication applications

dc.creatorMladenović, Ivana
dc.creatorLamovec, Jelena
dc.creatorJović, Vesna
dc.creatorRadojević, Vesna
dc.date.accessioned2020-11-22T23:19:26Z
dc.date.available2020-11-22T23:19:26Z
dc.date.issued2015
dc.identifier.isbn978-86-80509-71-6
dc.identifier.urihttps://cer.ihtm.bg.ac.rs/handle/123456789/3829
dc.description.abstractTehnikom elektrohemijske depozicije iz dva kupatila (DBT), dobijeni su višeslojni filmovi Ni i Cu naizmeničnim deponovanjem na polikristalni bakarni supstrat. Promena parametara kao što su ukupna debljina filma, debljina pojedinačnog sloja i odnos debljina pojedinačnih slojeva Ni i Cu u filmu, utiče na mehanička svojstva višeslojnih filmova i omogućava formiranje različitih struktura za njihovu primenu u MEMS-u. Tanki filmovi Ni i Cu sa debljinom slojeva od 75 nm do 5 μm pokazuju dobru međuslojnu adheziju. Smanjenjem debljine pojedinačnog sloja do 300 nm i povećanjem odnosa debljina slojeva Ni:Cu na 1:4, došlo se do višestrukog povećanja vrednosti Vikersove mikrotvrdoće u odnosu na jednoslojne metalne filmove. Filmovi sa debljinom slojeva većom od 5 mikrometara, nemaju dobru medjuslojnu adheziju i uočava se delaminacija slojeva. Sve strukture višeslojnih filmova Ni i Cu se mogu primeniti za izradu trodimenzionalnih MEMS struktura od nikla, metodom selektivnog nagrizanja sloja bakra u kiselom rastvoru tiouree (tehnikom „površinskog mikromašinstva“).sr
dc.description.abstractMultilayer Ni/Cu films were alternately electrochemically deposited on polycrystalline Cu substrate by dual-bath technique. Change of the parameters such as total film thickness, sublayer thickness and sublayer thickness ratio influences the mechanical properties of the multilayer Ni/Cu films and gives the possibilities for different MEMS fabrication applications. Thin Ni and Cu films with sublayer thickness from 75 nm to 5 µm have good interlayer adhesion. Decreasing the sublayer thickness leads to increase in the composite microhardness value. Delamination of the layers is noticed for the sublayer thickness greater than 5 µm. Three-dimensional Ni microstructures can be fabricated using multilayer Ni/Cu film by selective etching of Cu layers in in acidic thiourea solution („surface micromachining“ technique).en
dc.language.isosrsr
dc.publisherBelgrade: ETRAN – Society for electronics, telecommunication, computing, automatics and nuclear engineeringsr
dc.relationinfo:eu-repo/grantAgreement/MESTD/Technological Development (TD or TR)/32008/RS//sr
dc.rightsopenAccesssr
dc.rights.urihttps://creativecommons.org/licenses/by/4.0/
dc.sourceЗборник 59. конференције за електронику, телекомуникације, рачунарство, аутоматику и нуклеарну технику ЕТРАН 2015, Srebrno jezerosr
dc.subjectElektrohemijska depozicija Ni i Cusr
dc.subjectVišeslojni tanki filmovisr
dc.subjectVikersova mikrotvrdoćasr
dc.subjectAdhezija slojeva u filmusr
dc.subjectSelektivno nagrizanjesr
dc.titleUticaj strukture višeslojnih tankih filmova nikla i bakra na njihova mehanička svojstva i primenu u izradi MEMS napravasr
dc.titleInfluence of the structure of multilayer thin Ni/Cu films on their mechanical properties and MEMS devices fabrication applicationsen
dc.typeconferenceObjectsr
dc.rights.licenseBYsr
dcterms.abstractЈовић, Весна; Ламовец, Јелена; Младеновић, Ивана; Радојевић, Весна; Утицај структуре вишеслојних танких филмова никла и бакра на њихова механичка својства и примену у изради МЕМС направа; Утицај структуре вишеслојних танких филмова никла и бакра на њихова механичка својства и примену у изради МЕМС направа;
dc.citation.spageMO2.1.1
dc.citation.epageMO2.1.4
dc.identifier.rcubhttps://hdl.handle.net/21.15107/rcub_cer_3829
dc.identifier.fulltexthttps://cer.ihtm.bg.ac.rs/bitstream/id/17872/bitstream_17872.pdf
dc.type.versionpublishedVersionsr


Документи

Thumbnail

Овај документ се појављује у следећим колекцијама

Приказ основних података о документу