CER - Central Repository
Institute of Chemistry, Technology and Metallurgy
    • English
    • Српски
    • Српски (Serbia)
  • English 
    • English
    • Serbian (Cyrillic)
    • Serbian (Latin)
  • Login
View Item 
  •   CER
  • IHTM
  • Radovi istraživača / Researchers' publications
  • View Item
  •   CER
  • IHTM
  • Radovi istraživača / Researchers' publications
  • View Item
JavaScript is disabled for your browser. Some features of this site may not work without it.

Uticaj strukture višeslojnih tankih filmova nikla i bakra na njihova mehanička svojstva i primenu u izradi MEMS naprava

Influence of the structure of multilayer thin Ni/Cu films on their mechanical properties and MEMS devices fabrication applications

Thumbnail
2015
bitstream_17872.pdf (297.8Kb)
Authors
Mladenović, Ivana
Lamovec, Jelena
Jović, Vesna
Radojević, Vesna
Conference object (Published version)
Metadata
Show full item record
Abstract
Tehnikom elektrohemijske depozicije iz dva kupatila (DBT), dobijeni su višeslojni filmovi Ni i Cu naizmeničnim deponovanjem na polikristalni bakarni supstrat. Promena parametara kao što su ukupna debljina filma, debljina pojedinačnog sloja i odnos debljina pojedinačnih slojeva Ni i Cu u filmu, utiče na mehanička svojstva višeslojnih filmova i omogućava formiranje različitih struktura za njihovu primenu u MEMS-u. Tanki filmovi Ni i Cu sa debljinom slojeva od 75 nm do 5 μm pokazuju dobru međuslojnu adheziju. Smanjenjem debljine pojedinačnog sloja do 300 nm i povećanjem odnosa debljina slojeva Ni:Cu na 1:4, došlo se do višestrukog povećanja vrednosti Vikersove mikrotvrdoće u odnosu na jednoslojne metalne filmove. Filmovi sa debljinom slojeva većom od 5 mikrometara, nemaju dobru medjuslojnu adheziju i uočava se delaminacija slojeva. Sve strukture višeslojnih filmova Ni i Cu se mogu primeniti za izradu trodimenzionalnih MEMS struktura od nikla, metodom selektivnog nagrizanj...a sloja bakra u kiselom rastvoru tiouree (tehnikom „površinskog mikromašinstva“).

Multilayer Ni/Cu films were alternately electrochemically deposited on polycrystalline Cu substrate by dual-bath technique. Change of the parameters such as total film thickness, sublayer thickness and sublayer thickness ratio influences the mechanical properties of the multilayer Ni/Cu films and gives the possibilities for different MEMS fabrication applications. Thin Ni and Cu films with sublayer thickness from 75 nm to 5 µm have good interlayer adhesion. Decreasing the sublayer thickness leads to increase in the composite microhardness value. Delamination of the layers is noticed for the sublayer thickness greater than 5 µm. Three-dimensional Ni microstructures can be fabricated using multilayer Ni/Cu film by selective etching of Cu layers in in acidic thiourea solution („surface micromachining“ technique).
Keywords:
Elektrohemijska depozicija Ni i Cu / Višeslojni tanki filmovi / Vikersova mikrotvrdoća / Adhezija slojeva u filmu / Selektivno nagrizanje
Source:
Зборник 59. конференције за електронику, телекомуникације, рачунарство, аутоматику и нуклеарну технику ЕТРАН 2015, Srebrno jezero, 2015, MO2.1.1-MO2.1.4
Publisher:
  • Belgrade: ETRAN – Society for electronics, telecommunication, computing, automatics and nuclear engineering
Funding / projects:
  • Micro- Nanosystems and Sensors for Electric Power and Process Industry and Environmental Protection (RS-32008)

ISBN: 978-86-80509-71-6

[ Google Scholar ]
Handle
https://hdl.handle.net/21.15107/rcub_cer_3829
URI
https://cer.ihtm.bg.ac.rs/handle/123456789/3829
Collections
  • Radovi istraživača / Researchers' publications
Institution/Community
IHTM
TY  - CONF
AU  - Mladenović, Ivana
AU  - Lamovec, Jelena
AU  - Jović, Vesna
AU  - Radojević, Vesna
PY  - 2015
UR  - https://cer.ihtm.bg.ac.rs/handle/123456789/3829
AB  - Tehnikom elektrohemijske depozicije iz dva
kupatila (DBT), dobijeni su višeslojni filmovi Ni i Cu
naizmeničnim deponovanjem na polikristalni bakarni supstrat.
Promena parametara kao što su ukupna debljina filma,
debljina pojedinačnog sloja i odnos debljina pojedinačnih
slojeva Ni i Cu u filmu, utiče na mehanička svojstva višeslojnih
filmova i omogućava formiranje različitih struktura za njihovu
primenu u MEMS-u. Tanki filmovi Ni i Cu sa debljinom
slojeva od 75 nm do 5 μm pokazuju dobru međuslojnu
adheziju. Smanjenjem debljine pojedinačnog sloja do 300 nm i
povećanjem odnosa debljina slojeva Ni:Cu na 1:4, došlo se do
višestrukog povećanja vrednosti Vikersove mikrotvrdoće u
odnosu na jednoslojne metalne filmove. Filmovi sa debljinom
slojeva većom od 5 mikrometara, nemaju dobru medjuslojnu
adheziju i uočava se delaminacija slojeva. Sve strukture
višeslojnih filmova Ni i Cu se mogu primeniti za izradu
trodimenzionalnih MEMS struktura od nikla, metodom
selektivnog nagrizanja sloja bakra u kiselom rastvoru tiouree
(tehnikom „površinskog mikromašinstva“).
AB  - Multilayer Ni/Cu films were alternately electrochemically deposited on polycrystalline Cu substrate by dual-bath technique. Change of the
parameters such as total film thickness, sublayer thickness and sublayer thickness ratio influences the mechanical properties of the multilayer Ni/Cu films and gives the possibilities for different MEMS fabrication applications. Thin Ni and Cu films with sublayer thickness from 75 nm to 5 µm have good interlayer adhesion. Decreasing the sublayer thickness leads to increase in the composite microhardness value. Delamination of the layers is noticed for the sublayer thickness greater than 5 µm. Three-dimensional Ni microstructures can be fabricated using multilayer Ni/Cu film by selective etching of Cu layers in in acidic thiourea solution („surface micromachining“ technique).
PB  - Belgrade: ETRAN – Society for electronics, telecommunication, computing, automatics and nuclear engineering
C3  - Зборник 59. конференције за електронику, телекомуникације, рачунарство, аутоматику и нуклеарну технику ЕТРАН 2015, Srebrno jezero
T1  - Uticaj strukture višeslojnih tankih filmova nikla i bakra na njihova mehanička svojstva i primenu u izradi MEMS naprava
T1  - Influence of the structure of multilayer thin Ni/Cu films
on their mechanical properties and MEMS devices
fabrication applications
SP  - MO2.1.1
EP  - MO2.1.4
UR  - https://hdl.handle.net/21.15107/rcub_cer_3829
ER  - 
@conference{
author = "Mladenović, Ivana and Lamovec, Jelena and Jović, Vesna and Radojević, Vesna",
year = "2015",
abstract = "Tehnikom elektrohemijske depozicije iz dva
kupatila (DBT), dobijeni su višeslojni filmovi Ni i Cu
naizmeničnim deponovanjem na polikristalni bakarni supstrat.
Promena parametara kao što su ukupna debljina filma,
debljina pojedinačnog sloja i odnos debljina pojedinačnih
slojeva Ni i Cu u filmu, utiče na mehanička svojstva višeslojnih
filmova i omogućava formiranje različitih struktura za njihovu
primenu u MEMS-u. Tanki filmovi Ni i Cu sa debljinom
slojeva od 75 nm do 5 μm pokazuju dobru međuslojnu
adheziju. Smanjenjem debljine pojedinačnog sloja do 300 nm i
povećanjem odnosa debljina slojeva Ni:Cu na 1:4, došlo se do
višestrukog povećanja vrednosti Vikersove mikrotvrdoće u
odnosu na jednoslojne metalne filmove. Filmovi sa debljinom
slojeva većom od 5 mikrometara, nemaju dobru medjuslojnu
adheziju i uočava se delaminacija slojeva. Sve strukture
višeslojnih filmova Ni i Cu se mogu primeniti za izradu
trodimenzionalnih MEMS struktura od nikla, metodom
selektivnog nagrizanja sloja bakra u kiselom rastvoru tiouree
(tehnikom „površinskog mikromašinstva“)., Multilayer Ni/Cu films were alternately electrochemically deposited on polycrystalline Cu substrate by dual-bath technique. Change of the
parameters such as total film thickness, sublayer thickness and sublayer thickness ratio influences the mechanical properties of the multilayer Ni/Cu films and gives the possibilities for different MEMS fabrication applications. Thin Ni and Cu films with sublayer thickness from 75 nm to 5 µm have good interlayer adhesion. Decreasing the sublayer thickness leads to increase in the composite microhardness value. Delamination of the layers is noticed for the sublayer thickness greater than 5 µm. Three-dimensional Ni microstructures can be fabricated using multilayer Ni/Cu film by selective etching of Cu layers in in acidic thiourea solution („surface micromachining“ technique).",
publisher = "Belgrade: ETRAN – Society for electronics, telecommunication, computing, automatics and nuclear engineering",
journal = "Зборник 59. конференције за електронику, телекомуникације, рачунарство, аутоматику и нуклеарну технику ЕТРАН 2015, Srebrno jezero",
title = "Uticaj strukture višeslojnih tankih filmova nikla i bakra na njihova mehanička svojstva i primenu u izradi MEMS naprava, Influence of the structure of multilayer thin Ni/Cu films
on their mechanical properties and MEMS devices
fabrication applications",
pages = "MO2.1.1-MO2.1.4",
url = "https://hdl.handle.net/21.15107/rcub_cer_3829"
}
Mladenović, I., Lamovec, J., Jović, V.,& Radojević, V.. (2015). Uticaj strukture višeslojnih tankih filmova nikla i bakra na njihova mehanička svojstva i primenu u izradi MEMS naprava. in Зборник 59. конференције за електронику, телекомуникације, рачунарство, аутоматику и нуклеарну технику ЕТРАН 2015, Srebrno jezero
Belgrade: ETRAN – Society for electronics, telecommunication, computing, automatics and nuclear engineering., MO2.1.1-MO2.1.4.
https://hdl.handle.net/21.15107/rcub_cer_3829
Mladenović I, Lamovec J, Jović V, Radojević V. Uticaj strukture višeslojnih tankih filmova nikla i bakra na njihova mehanička svojstva i primenu u izradi MEMS naprava. in Зборник 59. конференције за електронику, телекомуникације, рачунарство, аутоматику и нуклеарну технику ЕТРАН 2015, Srebrno jezero. 2015;:MO2.1.1-MO2.1.4.
https://hdl.handle.net/21.15107/rcub_cer_3829 .
Mladenović, Ivana, Lamovec, Jelena, Jović, Vesna, Radojević, Vesna, "Uticaj strukture višeslojnih tankih filmova nikla i bakra na njihova mehanička svojstva i primenu u izradi MEMS naprava" in Зборник 59. конференције за електронику, телекомуникације, рачунарство, аутоматику и нуклеарну технику ЕТРАН 2015, Srebrno jezero (2015):MO2.1.1-MO2.1.4,
https://hdl.handle.net/21.15107/rcub_cer_3829 .

DSpace software copyright © 2002-2015  DuraSpace
About CeR – Central Repository | Send Feedback

re3dataOpenAIRERCUB
 

 

All of DSpaceInstitutions/communitiesAuthorsTitlesSubjectsThis institutionAuthorsTitlesSubjects

Statistics

View Usage Statistics

DSpace software copyright © 2002-2015  DuraSpace
About CeR – Central Repository | Send Feedback

re3dataOpenAIRERCUB