Uticaj strukture višeslojnih tankih filmova nikla i bakra na njihova mehanička svojstva i primenu u izradi MEMS naprava
Influence of the structure of multilayer thin Ni/Cu films on their mechanical properties and MEMS devices fabrication applications
Conference object (Published version)
Metadata
Show full item recordAbstract
Tehnikom elektrohemijske depozicije iz dva
kupatila (DBT), dobijeni su višeslojni filmovi Ni i Cu
naizmeničnim deponovanjem na polikristalni bakarni supstrat.
Promena parametara kao što su ukupna debljina filma,
debljina pojedinačnog sloja i odnos debljina pojedinačnih
slojeva Ni i Cu u filmu, utiče na mehanička svojstva višeslojnih
filmova i omogućava formiranje različitih struktura za njihovu
primenu u MEMS-u. Tanki filmovi Ni i Cu sa debljinom
slojeva od 75 nm do 5 μm pokazuju dobru međuslojnu
adheziju. Smanjenjem debljine pojedinačnog sloja do 300 nm i
povećanjem odnosa debljina slojeva Ni:Cu na 1:4, došlo se do
višestrukog povećanja vrednosti Vikersove mikrotvrdoće u
odnosu na jednoslojne metalne filmove. Filmovi sa debljinom
slojeva većom od 5 mikrometara, nemaju dobru medjuslojnu
adheziju i uočava se delaminacija slojeva. Sve strukture
višeslojnih filmova Ni i Cu se mogu primeniti za izradu
trodimenzionalnih MEMS struktura od nikla, metodom
selektivnog nagrizanj...a sloja bakra u kiselom rastvoru tiouree
(tehnikom „površinskog mikromašinstva“).
Multilayer Ni/Cu films were alternately electrochemically deposited on polycrystalline Cu substrate by dual-bath technique. Change of the
parameters such as total film thickness, sublayer thickness and sublayer thickness ratio influences the mechanical properties of the multilayer Ni/Cu films and gives the possibilities for different MEMS fabrication applications. Thin Ni and Cu films with sublayer thickness from 75 nm to 5 µm have good interlayer adhesion. Decreasing the sublayer thickness leads to increase in the composite microhardness value. Delamination of the layers is noticed for the sublayer thickness greater than 5 µm. Three-dimensional Ni microstructures can be fabricated using multilayer Ni/Cu film by selective etching of Cu layers in in acidic thiourea solution („surface micromachining“ technique).
Keywords:
Elektrohemijska depozicija Ni i Cu / Višeslojni tanki filmovi / Vikersova mikrotvrdoća / Adhezija slojeva u filmu / Selektivno nagrizanjeSource:
Зборник 59. конференције за електронику, телекомуникације, рачунарство, аутоматику и нуклеарну технику ЕТРАН 2015, Srebrno jezero, 2015, MO2.1.1-MO2.1.4Publisher:
- Belgrade: ETRAN – Society for electronics, telecommunication, computing, automatics and nuclear engineering
Funding / projects:
- Micro- Nanosystems and Sensors for Electric Power and Process Industry and Environmental Protection (RS-32008)
Collections
Institution/Community
IHTMTY - CONF AU - Mladenović, Ivana AU - Lamovec, Jelena AU - Jović, Vesna AU - Radojević, Vesna PY - 2015 UR - https://cer.ihtm.bg.ac.rs/handle/123456789/3829 AB - Tehnikom elektrohemijske depozicije iz dva kupatila (DBT), dobijeni su višeslojni filmovi Ni i Cu naizmeničnim deponovanjem na polikristalni bakarni supstrat. Promena parametara kao što su ukupna debljina filma, debljina pojedinačnog sloja i odnos debljina pojedinačnih slojeva Ni i Cu u filmu, utiče na mehanička svojstva višeslojnih filmova i omogućava formiranje različitih struktura za njihovu primenu u MEMS-u. Tanki filmovi Ni i Cu sa debljinom slojeva od 75 nm do 5 μm pokazuju dobru međuslojnu adheziju. Smanjenjem debljine pojedinačnog sloja do 300 nm i povećanjem odnosa debljina slojeva Ni:Cu na 1:4, došlo se do višestrukog povećanja vrednosti Vikersove mikrotvrdoće u odnosu na jednoslojne metalne filmove. Filmovi sa debljinom slojeva većom od 5 mikrometara, nemaju dobru medjuslojnu adheziju i uočava se delaminacija slojeva. Sve strukture višeslojnih filmova Ni i Cu se mogu primeniti za izradu trodimenzionalnih MEMS struktura od nikla, metodom selektivnog nagrizanja sloja bakra u kiselom rastvoru tiouree (tehnikom „površinskog mikromašinstva“). AB - Multilayer Ni/Cu films were alternately electrochemically deposited on polycrystalline Cu substrate by dual-bath technique. Change of the parameters such as total film thickness, sublayer thickness and sublayer thickness ratio influences the mechanical properties of the multilayer Ni/Cu films and gives the possibilities for different MEMS fabrication applications. Thin Ni and Cu films with sublayer thickness from 75 nm to 5 µm have good interlayer adhesion. Decreasing the sublayer thickness leads to increase in the composite microhardness value. Delamination of the layers is noticed for the sublayer thickness greater than 5 µm. Three-dimensional Ni microstructures can be fabricated using multilayer Ni/Cu film by selective etching of Cu layers in in acidic thiourea solution („surface micromachining“ technique). PB - Belgrade: ETRAN – Society for electronics, telecommunication, computing, automatics and nuclear engineering C3 - Зборник 59. конференције за електронику, телекомуникације, рачунарство, аутоматику и нуклеарну технику ЕТРАН 2015, Srebrno jezero T1 - Uticaj strukture višeslojnih tankih filmova nikla i bakra na njihova mehanička svojstva i primenu u izradi MEMS naprava T1 - Influence of the structure of multilayer thin Ni/Cu films on their mechanical properties and MEMS devices fabrication applications SP - MO2.1.1 EP - MO2.1.4 UR - https://hdl.handle.net/21.15107/rcub_cer_3829 ER -
@conference{ author = "Mladenović, Ivana and Lamovec, Jelena and Jović, Vesna and Radojević, Vesna", year = "2015", abstract = "Tehnikom elektrohemijske depozicije iz dva kupatila (DBT), dobijeni su višeslojni filmovi Ni i Cu naizmeničnim deponovanjem na polikristalni bakarni supstrat. Promena parametara kao što su ukupna debljina filma, debljina pojedinačnog sloja i odnos debljina pojedinačnih slojeva Ni i Cu u filmu, utiče na mehanička svojstva višeslojnih filmova i omogućava formiranje različitih struktura za njihovu primenu u MEMS-u. Tanki filmovi Ni i Cu sa debljinom slojeva od 75 nm do 5 μm pokazuju dobru međuslojnu adheziju. Smanjenjem debljine pojedinačnog sloja do 300 nm i povećanjem odnosa debljina slojeva Ni:Cu na 1:4, došlo se do višestrukog povećanja vrednosti Vikersove mikrotvrdoće u odnosu na jednoslojne metalne filmove. Filmovi sa debljinom slojeva većom od 5 mikrometara, nemaju dobru medjuslojnu adheziju i uočava se delaminacija slojeva. Sve strukture višeslojnih filmova Ni i Cu se mogu primeniti za izradu trodimenzionalnih MEMS struktura od nikla, metodom selektivnog nagrizanja sloja bakra u kiselom rastvoru tiouree (tehnikom „površinskog mikromašinstva“)., Multilayer Ni/Cu films were alternately electrochemically deposited on polycrystalline Cu substrate by dual-bath technique. Change of the parameters such as total film thickness, sublayer thickness and sublayer thickness ratio influences the mechanical properties of the multilayer Ni/Cu films and gives the possibilities for different MEMS fabrication applications. Thin Ni and Cu films with sublayer thickness from 75 nm to 5 µm have good interlayer adhesion. Decreasing the sublayer thickness leads to increase in the composite microhardness value. Delamination of the layers is noticed for the sublayer thickness greater than 5 µm. Three-dimensional Ni microstructures can be fabricated using multilayer Ni/Cu film by selective etching of Cu layers in in acidic thiourea solution („surface micromachining“ technique).", publisher = "Belgrade: ETRAN – Society for electronics, telecommunication, computing, automatics and nuclear engineering", journal = "Зборник 59. конференције за електронику, телекомуникације, рачунарство, аутоматику и нуклеарну технику ЕТРАН 2015, Srebrno jezero", title = "Uticaj strukture višeslojnih tankih filmova nikla i bakra na njihova mehanička svojstva i primenu u izradi MEMS naprava, Influence of the structure of multilayer thin Ni/Cu films on their mechanical properties and MEMS devices fabrication applications", pages = "MO2.1.1-MO2.1.4", url = "https://hdl.handle.net/21.15107/rcub_cer_3829" }
Mladenović, I., Lamovec, J., Jović, V.,& Radojević, V.. (2015). Uticaj strukture višeslojnih tankih filmova nikla i bakra na njihova mehanička svojstva i primenu u izradi MEMS naprava. in Зборник 59. конференције за електронику, телекомуникације, рачунарство, аутоматику и нуклеарну технику ЕТРАН 2015, Srebrno jezero Belgrade: ETRAN – Society for electronics, telecommunication, computing, automatics and nuclear engineering., MO2.1.1-MO2.1.4. https://hdl.handle.net/21.15107/rcub_cer_3829
Mladenović I, Lamovec J, Jović V, Radojević V. Uticaj strukture višeslojnih tankih filmova nikla i bakra na njihova mehanička svojstva i primenu u izradi MEMS naprava. in Зборник 59. конференције за електронику, телекомуникације, рачунарство, аутоматику и нуклеарну технику ЕТРАН 2015, Srebrno jezero. 2015;:MO2.1.1-MO2.1.4. https://hdl.handle.net/21.15107/rcub_cer_3829 .
Mladenović, Ivana, Lamovec, Jelena, Jović, Vesna, Radojević, Vesna, "Uticaj strukture višeslojnih tankih filmova nikla i bakra na njihova mehanička svojstva i primenu u izradi MEMS naprava" in Зборник 59. конференције за електронику, телекомуникације, рачунарство, аутоматику и нуклеарну технику ЕТРАН 2015, Srebrno jezero (2015):MO2.1.1-MO2.1.4, https://hdl.handle.net/21.15107/rcub_cer_3829 .