Show simple item record

Strukturne modifikacije tankih slojeva fulerena pri bombardovanju višestruko naelektrisanim jonima gvožđa

dc.creatorTodorović-Marković, Biljana
dc.creatorDraganić, I.
dc.creatorVasiljević-Radović, Dana
dc.creatorRomčević, N.
dc.creatorBlanuša, J.
dc.creatorDramićanin, Miroslav
dc.creatorMarković, Z.
dc.date.accessioned2019-01-30T17:16:04Z
dc.date.available2019-01-30T17:16:04Z
dc.date.issued2007
dc.identifier.issn0354-2300
dc.identifier.urihttp://cer.ihtm.bg.ac.rs/handle/123456789/338
dc.description.abstractIn this paper, the results of structural modification of fullerene thin films bombarded by highly charged iron ions (Fe6+) have been presented. The properties of as-deposited and irradiated fullerene thin films have been investigated by Raman spectroscopy, UV/Vis spectrophotometry and atomic force microscopy (AFM). Results of Raman spectroscopy have indicated structural changes of irradiated thin films depending on fluences. It was found that iron doped fullerene films are dominated by sp3 rather than sp2 bonds after bombardment which might be due to formation of nano-diamond structures. AFM analysis showed that ion beam had destroyed the surface ordering. The optical band gap was found to be in the range of 0.6 to 1.4 eV for irradiated films by Fe6+ ions at the highest fluences.en
dc.description.abstractU radu su prikazani rezultati strukturne modifikacije tankih slojeva fulerena koji su bombardovani višestruko naelektrisanim jonima gvožđa (Fe6+). Osobine deponovanih i bombardovanih tankih slojeva fulerena su ispitivane Ramanovom spektroskopijom, mikroskopom atomske sile (AFM), kao i UV/Vis spektrometrijom. Na osnovu rezultata dobijenih Ramanovom analizom može se zaključiti da dolazi do strukturnih promena u bombardovanim fulerenskim slojevima u zavisnosti od doze zračenja. Utvrđeno je da u tankim slojevima koji su bombardovani višestruko naelektrisanim jonima gvožđa dominiraju sp3 veze u odnosu na broj sp2 veza. Dominantno prisustvo sp3 veza u bombardovanim slojevima ukazuje na moguće formiranje dijamantu slične strukture. AFM analiza je pokazala da je promenjena morfologija bombardovanih uzoraka. Utvrđeno je da je energetski procep ozračenih slojeva u opsegu od 0.6 do 1.4 eV u zavisnosti od primenjene doze zračenja.sr
dc.rightsrestrictedAccess
dc.sourceTehnika - Novi materijali
dc.subjection bombardmenten
dc.subjectAtomic force microscopyen
dc.subjectRaman scattering spectroscopyen
dc.subjectjonska implantacijasr
dc.subjectAFMsr
dc.subjectRamanova spektroskopijasr
dc.titleStructural modification of fullerene thin films by highly charged iron ionsen
dc.titleStrukturne modifikacije tankih slojeva fulerena pri bombardovanju višestruko naelektrisanim jonima gvožđasr
dc.typearticle
dc.rights.licenseARR
dcterms.abstractРомчевић, Н.; Блануша, Ј.; Драганић, И.; Васиљевић-Радовић, Дана; Тодоровић-Марковић, Биљана; Марковић, З.; Драмићанин, Мирослав; Структурне модификације танких слојева фулерена при бомбардовању вишеструко наелектрисаним јонима гвожђа; Структурне модификације танких слојева фулерена при бомбардовању вишеструко наелектрисаним јонима гвожђа;
dc.citation.volume16
dc.citation.issue3
dc.citation.spage9
dc.citation.epage14
dc.citation.other16(3): 9-14
dc.identifier.rcubConv_343
dc.type.versionpublishedVersion


Files in this item

FilesSizeFormatView

There are no files associated with this item.

This item appears in the following Collection(s)

Show simple item record