Приказ основних података о документу

Analiza hrapavosti galvanskih prevlaka tehnikom skenirajuće tunelske mikroskopije III deo - analiza prevlaka bakra istaloženih sa tioureom kao aditivom za sjaj

dc.creatorNikolić, Nebojša D.
dc.creatorNovaković, G.
dc.creatorRakočević, Zlatko Lj.
dc.creatorPopov, Konstantin I.
dc.date.accessioned2019-01-30T17:11:31Z
dc.date.available2019-01-30T17:11:31Z
dc.date.issued2003
dc.identifier.issn0351-9465
dc.identifier.urihttps://cer.ihtm.bg.ac.rs/handle/123456789/121
dc.description.abstractIn this work is given the analysis of roughness of copper coatings electrodeposited from a sulfate bath in the presence of thiourea, by methodology which is described in part I of this work. It was shown that the electrodeposition of copper in the presence of thiourea follows model of surface diffusion and step growth (or Wolf-Villain model + step flow).en
dc.description.abstractU ovom radu je data analiza hrapavosti prevlaka bakra istaloženih iz sulfatnog kupatila sa dodatkom tiouree kao aditiva za sjaj, metodologijom koja je opisana u I delu ovog rada. Pokazano je da se taloženje bakra u prisustvu tiouree odvija po mehanizmu površinske difuzije i rasta na stepenicama površine.sr
dc.publisherBelgrade, Serbia : Engineering Society for Corrosion
dc.rightsopenAccess
dc.rights.urihttps://creativecommons.org/licenses/by-nc-nd/4.0/
dc.sourceZaštita materijala
dc.titleThe roughness analysis of metal coatings by STM technique part III: Analysis of copper coatings electrodeposited with thiourea as brightening additiveen
dc.titleAnaliza hrapavosti galvanskih prevlaka tehnikom skenirajuće tunelske mikroskopije III deo - analiza prevlaka bakra istaloženih sa tioureom kao aditivom za sjajsr
dc.typearticle
dc.rights.licenseBY-NC-ND
dcterms.abstractНиколић, Небојша; Попов, Константин И.; Ракочевић, Златко Љ.; Новаковић, Г.; Aнализа храпавости галванских превлака техником скенирајуће тунелске микроскопије ИИИ део - анализа превлака бакра исталожених са тиоуреом као адитивом за сјај; Aнализа храпавости галванских превлака техником скенирајуће тунелске микроскопије ИИИ део - анализа превлака бакра исталожених са тиоуреом као адитивом за сјај;
dc.citation.volume44
dc.citation.issue1
dc.citation.spage17
dc.citation.epage20
dc.citation.other44(1): 17-20
dc.identifier.rcubhttps://hdl.handle.net/21.15107/rcub_cer_121
dc.type.versionpublishedVersion


Документи

ДатотекеВеличинаФорматПреглед

Уз овај запис нема датотека.

Овај документ се појављује у следећим колекцијама

Приказ основних података о документу