Приказ основних података о документу

Sinteza amorfnog bor karbida bombardovanjem tankih slojeva fulerena jonima bora

dc.creatorTodorović-Marković, Biljana
dc.creatorDraganić, Ilija
dc.creatorVasiljević-Radović, Dana
dc.creatorRomčević, Nebojša
dc.creatorRomčević, Maja
dc.creatorDramićanin, Miroslav
dc.creatorMarković, Zoran M.
dc.date.accessioned2019-01-30T17:14:40Z
dc.date.available2019-01-30T17:14:40Z
dc.date.issued2006
dc.identifier.issn0354-2300
dc.identifier.urihttps://cer.ihtm.bg.ac.rs/handle/123456789/272
dc.description.abstractIn this paper, results of structural modification of fullerene thin films by single and multiple charged boron ions (B+, B3+) are presented. The applied ion energies were in the range of 15 to 45 keV. The characterization of as-deposited and irradiated specimens has been performed by atomic force microscopy, Raman and Fourier transform infrared spectroscopy and UV/VIS spectrophotometry. The results of Raman analysis have shown the formation of amorphous layer after irradiation of fullerene thin films. Fourier transform infrared spectroscopy has confirmed the formation of new B-C bonds in irradiated films at higher fluences (2x1016 cm-2). The morphology of bombarded films has been changed significantly. The optical band gap was found to be reduced from 1.7 to 1.06 eV for irradiated films by B3+ ions and 0.7 eV for irradiated films by B+ ions.en
dc.description.abstractU radu su prikazani rezultati strukturne modifikacije tankih slojeva fulerena bombardovanjem jednostruko i višestruko naelektrisanim jonima bora (B+, B3+). Energije korišćenih jona su bile u opsegu od 15 do 45 keV. Osobine deponovanih i ozračenih fulerenskih slojeva su proučavane pomoću mikroskopa atomske snage (AFM), Ramanovom i Furijeovom infracrvenom spektroskopijom (FTIR) i UV/VIS spektrometrijom. Rezultati koji su dobijeni na osnovu Ramanove spektroskopije su pokazali da se posle ozračivanja formirao sloj amorfnog ugljenika na površini uzorka. Furijeova infracrvena spektroskopija je pokazala da su se unutar ozračenog sloja formirale veze bora i ugljenika. Morfologija fulerenskih slojeva se značajno promenila posle bombardovanja jonima bora. Utvrđeno je da se energetski procep ozračenih slojeva smanjio sa 1.7 eV na 1.06 eV za slojeve bombardovane trostruko naelektrisanim jonima bora, i na 0.7 eV za slojeve bombardovane B+ jonima.sr
dc.rightsrestrictedAccess
dc.sourceTehnika - Novi materijali
dc.subjectatomic force microscopyen
dc.subjectRaman scattering spectroscopyen
dc.subjectFourier transform infrared spectroscopyen
dc.subjection bombardmenten
dc.subjectboron carbidesen
dc.subjectAFMsr
dc.subjectRamanova spektroskopijasr
dc.subjectFurijeova infracrvena spektroskopijasr
dc.subjectjonska implantacijasr
dc.subjectbor karbidsr
dc.titleSynthesis of amorphous boron carbide by single and multiple charged boron ions bombardment of fullerene thin filmsen
dc.titleSinteza amorfnog bor karbida bombardovanjem tankih slojeva fulerena jonima borasr
dc.typearticle
dc.rights.licenseARR
dcterms.abstractДраганић, Илија; Васиљевић-Радовић, Дана; Драмићанин, Мирослав; Ромчевић, Небојша; Тодоровић-Марковић, Биљана; Ромчевић, Маја; Марковић, Зоран; Синтеза аморфног бор карбида бомбардовањем танких слојева фулерена јонима бора; Синтеза аморфног бор карбида бомбардовањем танких слојева фулерена јонима бора;
dc.citation.volume15
dc.citation.issue6
dc.citation.spage7
dc.citation.epage13
dc.citation.other15(6): 7-13
dc.identifier.rcubhttps://hdl.handle.net/21.15107/rcub_cer_272
dc.type.versionpublishedVersion


Документи

ДатотекеВеличинаФорматПреглед

Уз овај запис нема датотека.

Овај документ се појављује у следећим колекцијама

Приказ основних података о документу